α、β表面污染監(jiān)測儀具備大面積探測窗，探測器效率高，可適用于各種場合的表面污染測量。主要用于α、β放射性表面污染的測量，廣泛用于因可能被污染而必須監(jiān)測的場所，例如：核電廠、再加工工廠、退役或被拆除的核設(shè)施、放射性廢物處理廠、醫(yī)院、研究所及各種環(huán)境中的應用，可對墻壁、地板、桌子、手、腳、衣服或其他物品進行表面污染監(jiān)測。α、β表面污染監(jiān)測儀操作流程規(guī)范

　　一、使用前準備

　　(一)環(huán)境確認

　　1. 確認監(jiān)測區(qū)域安全狀態(tài)，設(shè)置警戒線或警示標識，穿戴防護服、手套及劑量計。

　　2. 檢查環(huán)境光照條件，保持監(jiān)測儀周圍無強光源直射，避免光學干擾。

　　(二)儀器檢查

　　1. 外觀檢查：查看儀器外殼是否完好，液晶屏無破損，按鍵靈敏，探頭連接牢固。

　　2. 電池電量：開機后確認電量指示≥80%，不足時更換充電電池或接駁外接電源。

　　3. 探頭狀態(tài)：檢查α、β探頭窗口無裂痕、無污染，使用酒精棉片輕拭表面。

　　(三)配件準備

　　1. 準備標準校準源(如^241Am α源、^90Sr-^90Y β源)及校驗用參考污染片。

　　2. 配備記錄本、鋼筆、便攜式照明設(shè)備(可選)。

　　二、儀器校準與初始化

　　(一)本底測量

　　1. 將儀器置于待測區(qū)域附近(距離污染源≥1m)，開機預熱5分鐘。

　　2. 進入"本底測量"模式，探頭垂直指向空氣，連續(xù)測量3次，取平均值記錄(例如：α本底=0.02cps，β本底=0.15cps)。

　　(二)能量校準

　　1. 調(diào)取儀器內(nèi)置校準程序，選擇對應放射源類型(α/β)。

　　2. 將標準源貼近探頭(距離≤5mm)，啟動自動校準，調(diào)節(jié)閾值至^241Am α峰位(約5.48MeV)或^90Sr-^90Y β譜區(qū)(0.5-2.2MeV)。

　　3. 保存校準參數(shù)，誤差范圍應控制在±10%以內(nèi)。

　　三、表面污染測量流程

　　(一)參數(shù)設(shè)置

　　1. 根據(jù)監(jiān)測目的選擇測量模式：

　　- 快速篩查：靈敏度優(yōu)先，量程0-1000cps，測量時間10秒/點。

　　- 定量分析：精度優(yōu)先，量程0-100cps，測量時間60秒/點。

　　2. 設(shè)置報警閾值(默認α≥0.5Bq/cm²，β≥5Bq/cm²)。

　　(二)標準化操作

　　1. 掃描路徑規(guī)劃：

　　- 網(wǎng)格法：按10cm×10cm劃分監(jiān)測區(qū)域，探頭中心對準網(wǎng)格交點。

　　- 螺旋法：從中心向外螺旋移動探頭，覆蓋直徑30cm圓形區(qū)域。

　　2. 測量實施：

　　- 探頭垂直壓緊被測表面(壓力≈5N)，保持3秒穩(wěn)定接觸。

　　- 對于凹凸表面，采用多點測量取平均值(每點測量3次)。

　　- 復雜幾何體(管道、閥門)需多角度測量，記錄最大值。

　　四、特殊情況處理

　　(一)高污染區(qū)域應對

　　1. 當α>50Bq/cm²或β>500Bq/cm²時：

　　- 立即標記紅色警示標簽

　　- 改用遠程操控桿持探頭測量

　　- 增加測量頻次(每30分鐘復測一次)

　　(二)干擾因素排除

　　1. 電磁干擾：關(guān)閉手機、對講機等電子設(shè)備，保持儀器與高壓設(shè)備距離≥2m。

　　2. 濕度影響：環(huán)境濕度>80%時，使用防潮罩包裹探頭。

　　3. 熒光干擾：關(guān)閉儀器背光，采用濾光片模式測量。

　　五、測量后處理

　　(一)數(shù)據(jù)整理

　　1 導出儀器存儲數(shù)據(jù)至PC端，使用專用軟件生成等劑量圖。

　　2. 對比歷史數(shù)據(jù)，標注污染趨勢(上升/穩(wěn)定/下降)。

　　(二)儀器去污

　　1. 使用專用去污劑(如0.1M EDTA溶液)擦拭探頭。

　　2. 本底復測：清潔后α本底增幅應<10%，否則需返廠維修。

　　(三)報告編制

　　1. 包括以下要素：

　　- 監(jiān)測日期、時間、天氣條件

　　- 儀器型號、校準證書編號

　　- 測點布置圖及污染分布云圖

　　- 超標點處理建議